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顯微操作和拾取系統(tǒng)

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瀏覽:- 發(fā)布日期:2018-08-24 10:38:47【

[文章導(dǎo)讀] 基于MEMS的微鑷(FemtoTools FT-G系列)用于樣品處理。微鑷可以抓住最大30微米的顆粒(FT-G32)或最大100微米(FT-G102)。兩種型號(hào)的微鑷都配有夾持力傳感器。

使用同步輻射的粉末X射線衍射測(cè)量提供了關(guān)于材料的晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)組成的豐富信息。獲得的衍射圖案的Rietveld分析是確定樣品的晶格結(jié)構(gòu)的常用方法。然而,在某些情況下,Rietveld分析并不能很好地收斂;例如,如果所研究的體積中包含的顆粒數(shù)量不足,Debye-Scherrer環(huán)變得不連續(xù)并且像斑點(diǎn)狀。當(dāng)樣品材料具有優(yōu)選的取向時(shí),就難以獲得良好會(huì)聚的結(jié)構(gòu),具有強(qiáng)磁各向異性的粉末狀鐵磁樣品就是一個(gè)例子。為了推斷這些材料的晶格結(jié)構(gòu),需要進(jìn)行單晶X射線衍射測(cè)量。當(dāng)粒徑為100μm或更大時(shí),可以使用微處理工具手動(dòng)分離并制備單個(gè)樣品樣品,同時(shí)用立體顯微鏡觀察它們。然而,對(duì)于較小的顆粒,手動(dòng)直接操作不再適用,而是需要顯微操作以及電子設(shè)備的幫助。近來(lái)微米級(jí)制造和運(yùn)動(dòng)技術(shù)的商業(yè)應(yīng)用已經(jīng)廣泛推廣,微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)可用于樣品處理,壓電馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的平臺(tái)也可用于工具和/或樣品的精確移動(dòng)。

基于MEMS的微鑷(FemtoTools FT-G系列)用于樣品處理。微鑷可以抓住最大30微米的顆粒(FT-G32)或最大100微米(FT-G102)。兩種型號(hào)的微鑷都配有夾持力傳感器。微鑷安裝在由Newport Agilis壓電馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的線性平臺(tái)組成的XYZ平臺(tái)上。它們可以在很寬的速度范圍內(nèi)驅(qū)動(dòng),最高可達(dá)0.5 mm / s,也可以亞微米級(jí)的增量運(yùn)動(dòng)。該操作程序基于NI LabVIEW,通過(guò)USB連接控制微鑷和XYZ平臺(tái)驅(qū)動(dòng)和力傳感器的模擬輸入/輸出。使用商用游戲手柄可以直觀地控制微鑷和平臺(tái)的所有運(yùn)動(dòng)。使用立體顯微鏡(Leica M205 C)監(jiān)測(cè)微鑷的運(yùn)動(dòng),放大倍數(shù)高達(dá)320倍。還可以通過(guò)千兆以太網(wǎng)連接到PCCCD相機(jī)監(jiān)視顯微鏡圖像。

顯微操作和拾取系統(tǒng)

為了從粉末狀樣品中拾取單個(gè)顆粒,應(yīng)首先將粉末分散在顯微鏡載玻片上,加入有機(jī)溶劑稀疏分散致密粉末。接下來(lái),通過(guò)移動(dòng)XYZ平臺(tái),小心地將夾具滑動(dòng)到物體顆粒上。通過(guò)目鏡進(jìn)行立體觀察,精確控制夾具。在抓住顆粒之后,使用力反饋控制可以獲得恒力夾緊模式。這有助于保持柔軟或易碎的材料,例如生物細(xì)胞。最后,顆??梢园惭b在聚合物MicroMounts上或安裝在玻璃針尖上,用于X射線衍射測(cè)量。

使用上述系統(tǒng)對(duì)Sm-Fe-N稀土永磁體粉末樣品的單粒子X射線衍射測(cè)量。由于樣品具有很強(qiáng)的單軸磁各向異性,該樣品的粉末X射線衍射測(cè)量的2-θ衍射圖的Rietveld分析不能很好地收斂,可能是由于顆粒之間的靜磁相互作用引起的優(yōu)選取向。

使用真空油脂作為溶劑稀疏地分散彼此粘附的顆粒,使用FT-G102夾具成功拾取樣品后,將其粘在玻璃針上。 X射線衍射測(cè)量成像板上的衍射圖案揭示了測(cè)量顆粒的晶體學(xué)均勻性。

重復(fù)拾取和測(cè)量試驗(yàn)后,使用旋轉(zhuǎn)樣品的連續(xù)測(cè)量結(jié)果,在分析中對(duì)所有觀察到的斑點(diǎn)進(jìn)行索引。從而得出該材料的單晶X射線衍射結(jié)果。上述方法使我們能夠比使用粉末衍射法更精確地分析晶體結(jié)構(gòu)。


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