[文章導讀] 納米壓痕儀主要用于測量納米尺度的硬度與彈性模量，可以用于研究或測試薄膜等納米材料的接觸剛度、蠕變、彈性功、塑性功、斷裂韌性、應力-應變曲線、疲勞、存儲模量及損耗模量等特性。

納米壓痕儀（點擊了解詳情）主要用于測量納米尺度的硬度與彈性模量，可以用于研究或測試薄膜等納米材料的接觸剛度、蠕變、彈性功、塑性功、斷裂韌性、應力-應變曲線、疲勞、存儲模量及損耗模量等特性。微納米力學測試系統(tǒng)可適用于有機或無機、軟質(zhì)或硬質(zhì)材料的檢測分析，包括PVD、CVD、PECVD薄膜，感光薄膜，彩繪釉漆，光學薄膜，微電子鍍膜，保護性薄膜，裝飾性薄膜等等。微納米力學測試系統(tǒng)基體可以為軟質(zhì)或硬質(zhì)材料，包括金屬、合金、半導體、玻璃、礦物和有機材料等。

動態(tài)納米壓痕，提供了彈/塑性和粘彈性隨著壓入深度、頻率和時間的變化關系，全面表征各種材料的普適性方法，從較軟的聚合物到硬質(zhì)鍍層都能適用；XPM快速力學性能成像，不論是測量分辨率和精度，還是測量速度，XPM都是微納米力學測試系統(tǒng)的業(yè)界新標桿；SPM+實現(xiàn)納米力學測試前后的準確原位成像，使用同一根探針實現(xiàn)樣品表面形貌成像和納米壓痕測試；強大的控制和分析系統(tǒng)。

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